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四探针方阻测试仪美商菲乐四探针电阻率测量仪
R50电阻率测量仪FilmetricsR50系列可进行接触式四点探针(4PP)和非接触式涡流(EC)测量。R50以每秒快速1点的速度映射导电膜的电阻率/电导率。电动X-Y载物台可使用标准收益或定制制
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四探针方阻电阻率测试仪
四探针电阻率/方阻测试仪,测量表面电阻,四探针电阻率/方阻测试仪 本机范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,四探针电阻率/方阻测试仪
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双电四探针方阻电阻率测试仪
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瑞柯微 手持式四探针方阻测试仪
FT-394系列手持式四探针方阻测试仪、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》,
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瑞柯微 普通四探针方阻电阻率测试仪
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瑞柯微 FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪
利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,适用于斜置式四探针对于微区的测试。
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四探针 方阻仪 方阻计
FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T
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瑞柯微 低阻双电四探针测试仪
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KDK-KDY-1 四探针电阻率测试仪
监测全程的电流变化,免除了测量电流/测量电阻率的转换,更及时掌控测量电流。 1:四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪/方阻仪/四探针电阻率测定仪 型号:KDK-KDY-1 四
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瑞柯微 薄膜材料方阻测试仪FT-331
采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.
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